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電壓介電擊穿強(qiáng)度儀測試功能原理與使用說明

更新時(shí)間:2024-01-12      點(diǎn)擊次數(shù):1115

一、測試功能原理與使用說明:

本文章以測試過程為順序, 介紹ZJC-100kV電壓介電擊穿強(qiáng)度儀的有關(guān)接地連接、 地線電流檢測 、電弧偵測等測試的原理與使用。 儀器的測試流程框圖:

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1.1 啟動(dòng)測試

      電壓介電擊穿強(qiáng)度儀器在測試模式下,核對測試條件、被測件連接正確后,按下 START 鍵即可啟動(dòng)測試

1.2 電壓上升

      有些被測件特性對電壓的突變比較敏感,需要使用此功能。儀器開始輸出時(shí)輸出電壓為零,開始電 壓輸出時(shí),儀器會(huì)以 0.1S為單位控制輸出電壓上步進(jìn)升,步進(jìn)升壓值根據(jù)測試電壓和電壓上升時(shí)間 確定( ΔV = V /(10 * S))。如果關(guān)閉電壓上升時(shí)間(RISE OFF )默認(rèn)電壓上升時(shí)間 0.1 秒自動(dòng)加 入測試時(shí)間,使測試時(shí)間最小值為 0.2S。此值太小可能引起 ARC 或  DC 升壓判定出錯(cuò),請注意。

1.3 DC 升壓判定

      電壓上升過程中是否啟動(dòng)電流上限判定功能開關(guān),主要用來避免測試誤判。

      測試分布電容小時(shí),電容的充電電流比較小不會(huì)引起電流有明顯變化的情況下,打開升壓判定可以 及早的發(fā)現(xiàn)被測件性能不良情況,減少元件過流損壞幾率。

      分步電容大時(shí),電壓上升過程中電容會(huì)有一個(gè)充電過程,此時(shí)的電流可能遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于設(shè)定的被測電流 上限,如果打開升壓判定,則會(huì)引起超上限誤判。如果必要可以打開短路闕值調(diào)低短路靈敏度,提高充電電流。

1.4 高壓測試

       對被測件進(jìn)行高壓測試。此時(shí)應(yīng)該可以保證測試電路正確,測試結(jié)果不會(huì)受一些特殊的附帶參數(shù)影響,顯示內(nèi)容是測試需要的實(shí)際耐電壓電流。

1.5 測試電壓下降

      同測試電壓上升,是被測件的特性決定。高壓測試結(jié)束電壓下降時(shí),儀器會(huì)以 0.1S為單位控制輸出 電壓下降(直流電壓不會(huì)隨控制電壓下降),步進(jìn)降壓值根據(jù)測試電壓和電壓上升時(shí)間確定( ΔV = - V /(10*S))。如果關(guān)閉電壓下降時(shí)間(FAIL OFF )默認(rèn)電壓下降時(shí)間為 0.1秒。此時(shí)儀器以不作測 試比較判定,數(shù)據(jù)僅供參考。電壓下降結(jié)束,儀器會(huì)將測試電路連接為交流耐電壓模式,此時(shí)被測件如果有直流電壓降通過儀器交流回路放電。

1.6 地線電流檢測功能

地線電流檢測是檢測流過儀器外殼的電流,防止觸電。當(dāng)高壓輸出時(shí),有電流從電壓輸出端經(jīng)過人體回流到儀器外殼,可能引起非常嚴(yán)重的后果。

儀器的地線電流檢測判斷電路響應(yīng)說明:

█  當(dāng)?shù)鼐€電流檢測啟用,地線電流大于 0.45mA 判斷為地線電流超限。

█  當(dāng)判斷觸電時(shí)儀器會(huì)在 0.3S內(nèi)結(jié)束高壓輸出,退出測試狀態(tài)。并顯示(GFI FAIL )。

注:儀器瞬間輸出電流可能大于 30mA ,如果確實(shí)是觸電的話,可能會(huì)引起操作人員昏迷或死亡。 所以在產(chǎn)品允許的情況下建議開啟地線電流檢測使用。

1.7 電流超限與電弧偵測功能

電流超限分類:電流下限、電流上限、電流超限、電弧偵測。

█  電流下限判斷( LOW ):一般做為測試低端斷開判斷使用。當(dāng)儀器測試設(shè)備時(shí),設(shè)備肯定會(huì)有一定的漏電流,當(dāng)儀器測試的漏電流小于下限設(shè)定電流值時(shí)認(rèn)為測試失敗(沒有連接設(shè)備), 如果被測元件本身漏電流很小則必須關(guān)閉此功能。超限判斷顯示( LOW FAIL ) , 僅測試模式此判定有效,定時(shí)采樣,速率為100mS每次。

█  電流上限判斷(HIGH) :常用的測試電流超限判斷。當(dāng)儀器測試設(shè)備時(shí),設(shè)備肯定會(huì)有一定的漏電流,當(dāng)儀器測試的漏電流大于上限設(shè)定電流值時(shí),認(rèn)為設(shè)備耐電壓阻抗不夠測試失敗。超時(shí)判斷顯示(HI FAIL ),定時(shí)采樣,速率為100mS 每次。

█  電流極限判定:電流采樣判斷較慢,絕緣崩潰時(shí)電流變化較快采樣電路無法及時(shí)作出反映,而電流峰值超過了儀器允許的輸出范圍,則會(huì)觸發(fā)此類超限判斷,超時(shí)判斷顯示( SHORT FAIL )。 由于此類電流超極限后數(shù)據(jù)無法采集,此時(shí)系統(tǒng)輸出的結(jié)果為:電流超限 100mS 內(nèi)的測試結(jié)   果。電流極限值為儀器允許輸出電流的兩倍,(相對交流為峰值的 1.5倍)。下降時(shí)間無效,

█  此判定不可屏蔽。

電弧偵測(ARC ):是面向線圈類元件測量的一個(gè)很實(shí)用的功能,它測試的是高壓測試回路中, 有局部電路瞬間放電引起的局部電流震蕩。由于疊加在正常的測試電流上,突變時(shí)間較短,以上的普通電流檢測電路無法響應(yīng)電流變化作出合適的判斷。電弧偵測電路濾除了正常電流值,  只處理高速的電流脈沖變化。由于低通濾波和電弧的大小本身帶有隨機(jī)性,此功能只能大概估計(jì)局部打火的程度。由于電流超限后無法采集數(shù)據(jù),此時(shí)的輸出結(jié)果為合格時(shí)的最后一次測試結(jié)果,超限判斷顯示(ARC  FAIL )。 ARC電流為測試為定性分析,量的大小和測試環(huán)境、測試線分布等等影響隨機(jī)性很大,使用時(shí)注意。

image.png

█  圖中 A 區(qū):為電流采樣顯示電路頻響。因?yàn)橐獮V除電源頻率的紋波 →AD 采樣→計(jì)算測試結(jié)果→分析電流是否超過設(shè)定限制。測試電流范圍內(nèi),脈寬大于 100mS 。

█  圖中 B 區(qū):電流快速響應(yīng)電路。它只濾除高頻干擾的信號→電壓峰值比較→過流峰值信號鎖定,只做極限判斷。大于儀器允許輸出電流,脈寬大于 1mS 。

█  圖中C 區(qū):電弧偵測電路。電弧偵測電路只采樣電流中發(fā)生突變的幅值,信號高通濾除低頻 →電壓峰值比較→脈沖鎖定。在設(shè)定值附近的電流突變沿,脈沖寬度約 1uS-1mS 。

1.8 不合格判斷

1、測試時(shí)電流超過儀器可以承受的最大輸出電流,或者儀器發(fā)現(xiàn)有安全隱患的狀態(tài)出現(xiàn),儀器會(huì) 立即切斷測試回路的電壓,等待儀器軟件查詢出錯(cuò)原因后判斷不合格。

2、如果測試結(jié)果超出測試項(xiàng)目設(shè)定的限制,儀器都會(huì)判斷被測件不合格。并立即停止當(dāng)前測試, 切斷電壓輸出,進(jìn)入測試結(jié)果不合格的處理程序。

3、多步驟測試時(shí)。有一步 FAIL ,總的測試結(jié)果就是 FAIL。

1.9 測試結(jié)果處理

█  如果測試過程出現(xiàn)超限,判斷為 (FAIL)。多步測試中出現(xiàn) FAIL 則最終結(jié)果為 FAIL 。

█  有多測試項(xiàng)目, FAIL判斷處理模式受系統(tǒng)的失敗模式控制。否則儀器會(huì)顯示FAIL判斷和類別(見 下圖以 HI為例),等待用戶處理。

█  測試結(jié)束后,沒有不合格標(biāo)記,測試結(jié)果判斷為 (PASS) 。

█  PASS 判斷處理模式受 SYSTEM 的 PASS HOLD 控制,然后準(zhǔn)備啟動(dòng)下步測量或退回測試 等待狀態(tài)。 HANDLER 信號輸出受控制模式控制。選擇 FILE 模式,那么只有整個(gè)文件測試結(jié)束才會(huì)輸出測試 結(jié)果。  STEP 模式則每步都會(huì)控制接口輸出相應(yīng)信號。

從此狀態(tài)開始到下一個(gè)步驟開始前,客戶可以用軟件查詢測試數(shù)據(jù)和結(jié)果。

1.10 STOP (停止測量)

       在整個(gè)測試過程中的任意狀態(tài)按下 STOP 鍵,儀器自動(dòng)結(jié)束測試, 進(jìn)入測試結(jié)束狀態(tài)。再次按下 STOP 鍵,儀器將退回測試等待狀態(tài)。停止測試時(shí)不會(huì)給出任何測試結(jié)果判斷輸出。

       在測試結(jié)束狀態(tài), 客戶可以用軟件查詢 STOP 前得到的最后一個(gè)測試數(shù)據(jù)。

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