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ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz。雙掃描技術(shù)，測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。雙測試要素輸入，測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。$n

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz.硅橡膠高頻介電常數(shù)測試儀

ZJD-B型介電常數(shù)測試儀是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實現(xiàn)銷售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對產(chǎn)品改進(jìn)升級；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測試精度，并增加新的功能。

ZJD-C介電常數(shù)測試儀的創(chuàng)新設(shè)計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì)，無須關(guān)注量程和換算單位。

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀測試回路采用了優(yōu)化的設(shè)計、優(yōu)質(zhì)的介質(zhì)材料和優(yōu)良的涂覆工藝使殘值減少。其高頻信號源是采用DDS數(shù)字合成、Q值測定和顯示部分運用了微機(jī)技術(shù)和智能化管理，數(shù)碼鎖定信號源頻率，諧振回路自動搜索，測試標(biāo)頻自動設(shè)置技術(shù)，使得測試精度更高，使生產(chǎn)線分選測試速度大增。

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測量儀符合標(biāo)準(zhǔn)： ASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法； GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法； GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法； GBT5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法；